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MEMS器件可靠性測試的主要目的是測試MEMS的可靠性和使用壽命。

如文中所示，在紫外線照射下確定石墨烯-GaN異質結界面。研究人員展示了在單獨式GaN氮化鎵器件上利用單層石墨烯制造垂直肖...

提供電子材料信息的咨詢服務公司TECHCET宣布，中國半導體材料供應商正在逐步占領韓國芯片制造（fab）生產線的市場份額...

本文主要介紹一種測量MEMS器件結構微觀力學參數的技術方法。行業內，將微觀的機械功能單元與半導體電子器件直接集成到硅級的...

本文主要介紹一種用于晶圓片混合鍵合3D異構集成的技術。隨著傳統的2D硅縮放達到其成本極限，半導體行業正在轉向異構集成-將...

本文主要是論述中國集成電路產業現狀和未來趨勢分析。隨著中美之間的關稅和貿易緊張局勢，中國各地的部門和公司加倍了決心，以迅...

此文主要是介紹了如何借助微納技術對MEMS微流量傳感器進行原型測試。微流量傳感器是一種熱力學流傳感器，其敏感體主要由硅基...

一方面，它們可以高分辨率地確定晶圓表面形貌，另一方面，它們也可以對動態運動行為進行精確表征。有源微機電結構元件（如MEM...

將氮化鎵（GaN）等寬帶隙材料與金剛石等導熱材料集成在一起的室溫低溫鍵合技術可以提高GaN器件的散熱效果，并擁有更高的功...

新技術和工藝將使生產密度更高，速度更快，功能更強大的芯片成為可能。但是芯片廠同時也需要采取必要的措施和工藝提高生產出來的...