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岱美中國拿到采購Filmetrics膜厚測量儀F50-XT膜厚儀的訂單(2012.10)

發布時間:2020-06-15

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       岱美中國拿到采購Filmetrics膜厚測量儀F50-XT的訂單。該客戶總部坐落于北京大學昌平校區內,主要以北京大學寬禁帶半導體研發中心為技術依托,通過引進優良的技術團隊和管理團隊,擁有先進的技術及管理優勢。同時,作為新技術的研發平臺,博士后研究人員、博士生和碩士研究生的培養基地,公司具有產學研一體化的明顯優勢。該客戶主要應用F50-XT進行外延片上各膜層厚度圖形掃描測試。
       F50-XT膜厚測量儀:
       F50-XT 膜厚測量儀采用的是波長范圍在1590-1650nm的紅外光干涉測量,主要應用于硬質涂層等單層或多層膜厚度的測量,操作簡單僅需將探頭放在要測試的位置,就能測出結果,能夠測量10um-1mm范圍的膜厚,精度高達2.5nm,可智能化設定坐標,掃描所測樣品的表面厚度分布,是一款性價比很高的膜厚測量設備。該產品將于2012年10月份,交予客戶正常使用。 
膜厚儀

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