膜厚儀F20-UV膜厚測量儀采用的是波長范圍在190-1100nm的可見光干涉測量，能夠測量1nm-40um范圍的膜層厚度，準確度高達0.4%或2nm，精度為0.1nm，是一款性價比很高的膜厚測量設備。