發布時間:2020-05-27
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由于客戶的特殊應用,我們給該客戶配置的該套測量系統考慮到了應用在透明與不透明基底的兩種應用。充分滿足客戶的應用需求以及節省成本。
美國Filmetrics公司生產的F50薄膜厚度測量儀是具有自動Mapping功能的測量儀,具有其系列的所有優點:利用光譜反射的原理,測量精度達到埃級的分辯率,測量快,操作簡單及*具性價比的薄膜厚度測量設備。Filmetrics公司的設備測量范圍從近紅外到紫外線,波長范圍從200nm到1700nm,測量厚度從30A到500um范圍。凡是光滑的,透明或半透明的,或是對光有吸收的膜層都可以測量。