發布時間:2011-04-08
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岱美中國拿到Filmetrics膜厚測量儀F20的訂單。該客戶為中國航天設立在上海的太陽能電池研究機構,主要研究非晶硅柔性薄膜太陽能電池,其采用全球優越的CVD沉積技術,進行不間斷連續鍍膜,技術成熟后將會極大的提高薄膜太陽能電池的生產效率。膜厚儀F20被用于測量非晶硅薄膜電池上的非晶硅(AmorphousSillicon)厚度。
F20標準型膜厚測試儀采用380nm~1050nm可見光進行干涉測量,單測厚度的情況下測試范圍達15nm~70um,分辨率高達0.1nm。膜厚儀F20是一款高性價比的產品,非常適合教學、研究、產品抽檢等非高負荷測量的情況使用。目前膜厚儀F20在國內外已有數千種應用,國內已有數十家客戶使用。
(該系統將于2011年2月交付,安裝和和驗收)