Nanotronics 這個晶圓光學檢測系統具有人工智能的自動檢查功能。先進的圖像處理AOI系統可提供可定制性和靈活性，以及可靠，高度可重復的結果。可以對AI增強的軟件nTelligence進行培訓，以使用nSpec®上的稀疏數據檢測缺陷。一旦經過訓練，就可以將算法導入到生產工具中，并且用戶可以開始自動對感興趣的缺陷和特征進行分類。該系統生成晶片上檢測到的所有缺陷的缺陷圖報告。

       無論用戶對樣品檢驗有什么具體要求，我們都能提供廣范的解決方案來獲得快速的結果。
       nSpec®CPS 300mm自動光學檢測系統是高度受控的潔凈室環境的理想系統。該系統可按順序運行多個掃描程序。用戶友好的軟件使配置配方變得毫不費力。而且，隨著需求的發展，配方非常易于保存和修改。
1. 這種300毫米尺寸的設備支持：

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• HEPA空氣過濾

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• 空氣離子發生器

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• 自動加載端口

2. 產品特征

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• 晶圓自動處理

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• 可設置多種分辨率，范圍從0.25 μm到更高

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• 快速掃描功能

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• 可定制的缺陷報告

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• 可設置單個圖像捕獲和掃描

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• 提供各種樣品夾頭，可滿足特定需求

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• 對缺陷或感興趣特征進行檢測和分類的魯棒分析

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• 擁有檢查和審查程序

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• 能夠多系統同步

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• 占地面積小，設施要求蕞少

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• 利用機架安裝控件

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• 帶有門聯鎖

3. 系統基本參數

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• 重量：540公斤

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• 尺寸（寬x深x高）：158cm x 173cm x 202cm

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• 蕞小真空要求：24英寸汞柱（70 kPa）

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• 電源：110v / 220v，30安培

4. 光學性能

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• 照明模式：明場，暗場，DIC（Nomarski）

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• 光源：白光LED（可用其他選項）

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• 物鏡倍數：2.5、5、10、20或50x，用戶可選

5. 光學平臺

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• 行程：典型值為350 mm（X和Y方向）

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• 定位：使用閉環編碼器，線性伺服電機（步進為50 nm）

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• 重復性：+/- 0.5 μm

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• 行程平整度：20 μm

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• 結構：施工精密地面滾道和高剛性直線導軌

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• 支撐平臺：集成到隔離平臺中

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• 帶有櫥柜系統

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• 中心負荷能力：5公斤

6. 備選功能

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• 可根據要求提供AFM 

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• SECS / GEM OCR

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• 空氣電離儀