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透射電子顯微鏡 (透鏡 - TEM) 研討會

發(fā)布時間：2011-09-19

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       岱美及FEI公司于2011月8月22日及23日, 在香港瑪麗醫(yī)院合辦了透射電子顯微鏡 (透鏡 - TEM) 研討會.超過20位透鏡的用戶參加, FEI 上等應(yīng)用工程師分享了最新透鏡的技術(shù)及制樣的方法。

       以下是研討會的簡介:

        - Low-Dose Exposure Technique (低劑量曝光技巧)

        - Photomontage (拼圖)

        - TIA 功能示范 (Tecnai 用戶接口)
        - 自動化功能示范 (Tecnai自動執(zhí)行許多日常工作程序，如tune, align, saturate, condition the gun 及 illumination, focus (或 defocus) the image, 及減少 astigmatism)
        - 現(xiàn)場樣品成像.

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